微區掃描電化學集電化學分析方法于一體
微區掃描電化學集電化學分析方法于一體
材料腐蝕的電化學測試方法局限于整個樣品的宏觀測試,
測試結果只反映樣品的不同局部位置的整體統計結果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環境的作用機理.為進行局部表面科學研究,微區掃描系統提供了一個新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領域的廣泛應用。近年來，人們一直在探索局部電化學過程的研究。第一代掃描參比電極技術（SRET）能探測局部腐蝕的發生。第二代掃描振動電極技術（SVET）采用振動電極測量局部
（電流，電位〕隨遠離被測電極表面位置的變化。
SVET具有比SRET更高的靈敏度。在SVET和SVET基礎上，又提出了采用掃描Kelvin振動電極（SKP）測量不同材料表面功函數。
微區掃描電化學是集電化學分析方法于一體的電化學通用儀器。微區掃描電化學能完成線性伏安、循環伏安、階梯伏安、脈沖伏安、方波伏安等電化學分析方法，還可以完成恒電位極化、恒電流極化，電位、電流、電量階躍和塔菲爾圖、交流阻抗等多項電化學測試功能。微區掃描電化學是在電化學工作站的基礎上加大輸出電流，提高掃描速度，提高電位、電流分辨率，微區掃描電化學在電化學測試方法上增加了脈沖電鍍方法、多種交流測試方法而成。微區掃描電化學系統軟件為方便使用者提供了強大的功能，包括文件管理，全面的實驗控制，靈活的圖形顯示，方便的圖形放大、縮小和還原，位圖圖形和數據的導出，多種數據處理功能。
出色的性能：快速精準的閉環定位系統為電化學掃描探針納米級研究的需求而特別設計。結合Uniscan獨特的混合型32-bit DAC技術，用戶可以選擇合適實驗研究的最佳配置
先進和靈活的工作平臺：系統可提供9種探針技術，使得M470成為全球最靈活的電化學掃描灘鎮工作平臺。
全面的附件：7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。
